Аспиранты базовой кафедры «Микро- и наноэлектроники» НИИМЭ с отличием защитили выпускные квалификационные работы

Аспиранты базовой кафедры «Микро- и наноэлектроники» НИИМЭ с отличием защитили выпускные квалификационные работы

26.06.2018
25 июня Государственной экзаменационной комиссией в составе: академик РАН, генеральный директор АО «НИИМЭ» Г.Я. Красников, д.т.н, профессор Е.С. Горнев, д.т.н., профессор Панасенко П.В., д.ф-м. н. профессор А.Г. Итальянцев А.Г., д.ф-м. н. Барабаненков М.Ю.,  была проведена Государственная итоговая аттестация аспирантов базовой кафедры Микро- и наноэлектроники, созданной на Факультете физической и квантовой электроники Московского физико-технического института.
В этом году кафедра  Микро- и наноэлектроники, которая действует с 2011 года, проводит первый выпуск аспирантов. Все эти годы кафедру  возглавляет генеральный директор АО «НИИМЭ», академик РАН Г.Я. Красников.
По результатам четырех лет обучения и научно-исследовательской работы в НИИМЭ на рассмотрение Государственной комиссии аспиранты 4 курса подготовили выпускные квалификационные работы (ВКР). Каждая работа была представлена в виде научного доклада.  
По окончании докладов члены комиссии задали выступающим ряд вопросов. Из протокола следует: «Аспиранты уверенно ответили на все поставленные вопросы,  показали высокий уровень подготовки». Все работы были защищены на «отлично».
Аспиранты получат дипломы об окончании аспирантуры. В декабре их ждет защита кандидатских диссертаций.
«НИИМЭ» и «МФТИ» уже много  лет тесно сотрудничают в области исследований и разработок, целью которых является создание отечественной конкурентоспособной микроэлектронной продукции нового поколения. Деятельность кафедры сосредоточена, прежде всего, на целевую подготовку высококвалифицированных специалистов для кадрового обеспечения «НИИМЭ».