Функциональное тестирование микросхем

Тестирование на программном и на аппаратном уровне


 АО «НИИМЭ» предоставляет услуги тестирования, как на программном, так и на аппаратном уровне для всего диапазона микросхем управления питанием, дискретных полупроводниковых приборов, RFID чипов, микропроцессоров, микроконтроллеров и систем-на-кристалле (SoC)s.

«НИИМЭ» использует лучшее в своем классе оборудование для тестирования, в том числе Agilent, Verigy, Advantest, Formula HF3, Spea, NI.

Наши высококвалифицированные специалисты поддерживают клиентов на протяжении всего сотрудничества: от измерения первых прототипов до тестирования изделий массового производства. Мы оказываем услуги тестирования как дизайн-командам, не имеющим собственных производственных мощностей, так и другим полупроводниковым фабрикам полного цикла. Наши специалисты помогают заказчикам своевременно верифицировать их разработки, сократить сроки вывода новых изделий на рынок и успешного подготовить новые устройства крупносерийному производству.