Array
(
    [ID] => 12
    [~ID] => 12
    [TIMESTAMP_X] => 27.07.2016 14:50:09
    [~TIMESTAMP_X] => 27.07.2016 14:50:09
    [IBLOCK_TYPE_ID] => press_center
    [~IBLOCK_TYPE_ID] => press_center
    [LID] => s2
    [~LID] => s2
    [CODE] => novosti
    [~CODE] => novosti
    [NAME] => Новости
    [~NAME] => Новости
    [ACTIVE] => Y
    [~ACTIVE] => Y
    [SORT] => 100
    [~SORT] => 100
    [LIST_PAGE_URL] => /press_center/novosti/
    [~LIST_PAGE_URL] => /press_center/novosti/
    [DETAIL_PAGE_URL] => /press_center/novosti/#ELEMENT_ID#/
    [~DETAIL_PAGE_URL] => /press_center/novosti/#ELEMENT_ID#/
    [SECTION_PAGE_URL] => /press_center/novosti/
    [~SECTION_PAGE_URL] => /press_center/novosti/
    [CANONICAL_PAGE_URL] => 
    [~CANONICAL_PAGE_URL] => 
    [PICTURE] => 
    [~PICTURE] => 
    [DESCRIPTION] => 
    [~DESCRIPTION] => 
    [DESCRIPTION_TYPE] => text
    [~DESCRIPTION_TYPE] => text
    [RSS_TTL] => 24
    [~RSS_TTL] => 24
    [RSS_ACTIVE] => Y
    [~RSS_ACTIVE] => Y
    [RSS_FILE_ACTIVE] => N
    [~RSS_FILE_ACTIVE] => N
    [RSS_FILE_LIMIT] => 
    [~RSS_FILE_LIMIT] => 
    [RSS_FILE_DAYS] => 
    [~RSS_FILE_DAYS] => 
    [RSS_YANDEX_ACTIVE] => N
    [~RSS_YANDEX_ACTIVE] => N
    [XML_ID] => 
    [~XML_ID] => 
    [TMP_ID] => 
    [~TMP_ID] => 
    [INDEX_ELEMENT] => Y
    [~INDEX_ELEMENT] => Y
    [INDEX_SECTION] => Y
    [~INDEX_SECTION] => Y
    [WORKFLOW] => N
    [~WORKFLOW] => N
    [BIZPROC] => N
    [~BIZPROC] => N
    [SECTION_CHOOSER] => L
    [~SECTION_CHOOSER] => L
    [LIST_MODE] => 
    [~LIST_MODE] => 
    [RIGHTS_MODE] => S
    [~RIGHTS_MODE] => S
    [SECTION_PROPERTY] => N
    [~SECTION_PROPERTY] => N
    [PROPERTY_INDEX] => N
    [~PROPERTY_INDEX] => N
    [VERSION] => 1
    [~VERSION] => 1
    [LAST_CONV_ELEMENT] => 0
    [~LAST_CONV_ELEMENT] => 0
    [SOCNET_GROUP_ID] => 
    [~SOCNET_GROUP_ID] => 
    [EDIT_FILE_BEFORE] => 
    [~EDIT_FILE_BEFORE] => 
    [EDIT_FILE_AFTER] => 
    [~EDIT_FILE_AFTER] => 
    [SECTIONS_NAME] => Разделы
    [~SECTIONS_NAME] => Разделы
    [SECTION_NAME] => Раздел
    [~SECTION_NAME] => Раздел
    [ELEMENTS_NAME] => Новости
    [~ELEMENTS_NAME] => Новости
    [ELEMENT_NAME] => Новость
    [~ELEMENT_NAME] => Новость
    [EXTERNAL_ID] => 
    [~EXTERNAL_ID] => 
    [LANG_DIR] => /en/
    [~LANG_DIR] => /en/
    [SERVER_NAME] => niime-semi.com
    [~SERVER_NAME] => niime-semi.com
    [USER_HAVE_ACCESS] => 1
    [SECTION] => 
    [ITEMS] => Array
        (
            [0] => Array
                (
                    [ID] => 362
                    [~ID] => 362
                    [IBLOCK_ID] => 12
                    [~IBLOCK_ID] => 12
                    [IBLOCK_SECTION_ID] => 
                    [~IBLOCK_SECTION_ID] => 
                    [NAME] => РАЗРАБОТАННЫЕ «НИИМЭ» МИКРОСХЕМЫ ДЛЯ ЭЛЕКТРОННЫХ ДОКУМЕНТОВ ПОЛУЧИЛИ СТАТУС ПРОДУКЦИИ ОТЕЧЕСТВЕННОГО ПРОИЗВОДСТВА ПЕРВОГО УРОВНЯ
                    [~NAME] => РАЗРАБОТАННЫЕ «НИИМЭ» МИКРОСХЕМЫ ДЛЯ ЭЛЕКТРОННЫХ ДОКУМЕНТОВ ПОЛУЧИЛИ СТАТУС ПРОДУКЦИИ ОТЕЧЕСТВЕННОГО ПРОИЗВОДСТВА ПЕРВОГО УРОВНЯ
                    [ACTIVE_FROM] => 27.01.2017
                    [~ACTIVE_FROM] => 27.01.2017
                    [TIMESTAMP_X] => 27.01.2017 14:18:29
                    [~TIMESTAMP_X] => 27.01.2017 14:18:29
                    [DETAIL_PAGE_URL] => /press_center/novosti/362/
                    [~DETAIL_PAGE_URL] => /press_center/novosti/362/
                    [LIST_PAGE_URL] => /press_center/novosti/
                    [~LIST_PAGE_URL] => /press_center/novosti/
                    [DETAIL_TEXT] => 

Министерство промышленности и торговли РФ подтвердило соответствие разработанных АО «НИИ Молекулярной Электроники» (АО «НИИМЭ») и производимых ПАО «Микрон» интегральных микросхем К5016ХС2 (MIK51AB72D) и К5016ТС01-04Д/Б (MIK51AB144D-04) требованиям, предъявляемым к интегральным схемам российского производства первого уровня. Микросхемы предназначены для использования в системах защищенного доступа, предъявляющих высокие требования к уровню защиты информации.

Интегральная микросхема первого уровня К5016ХС2 с 2015 года используется ФГУП «Гознак» для изготовления паспортно-визовых документов граждан РФ нового поколения (биометрические загранпаспорта) с бесконтактным интерфейсом, поддержкой российских и международных стандартов криптографии. Интегральная микросхема первого уровня К5016ТС01-04Д/Б с расширенной памятью планируется к использованию в различных государственных электронных идентификационных документах: удостоверении личности гражданина РФ, удостоверении военнослужащего, биометрическом загранпаспорте, полисе ОМС, электронном водительском удостоверении и др. Ранее Министерство промышленности и торговли РФ подтвердило статус интегральной схемы российского производства первого уровня для разработанной в АО «НИИМЭ» микросхемы К5016ВГ1 (MIK51SC72D), которая используется при создании отечественных банковских карт НСПК «Мир».

Разработанные специалистами АО «НИИМЭ» микрочипы соответствуют всем российским и международным требованиям к защите информации: аппаратные и программные составляющие интегральных микросхем предусматривают поддержку многочисленных стандартов шифрования, имеют многоуровневую систему пассивной и активной защиты от несанкционированного чтения и модификации информации, зондирования внутренних компонентов и сигнальных линий. Их использование в государственных электронных документах обеспечивает надежное хранение персональных данных и информационную безопасность граждан.

Генеральный директор АО «НИИМЭ», академик РАН Геннадий Красников отметил: «Многие микросхемы иностранного происхождения имеют вредоносные недекларированные возможности, которые закладываются еще на этапе их проектирования или создания IP-блоков, что делает небезопасным их использование в государственных системах. За последние несколько лет мы разработали новые технологии, укрепив отечественную микроэлектронную научную школу, и уже владеем полным циклом разработки и создания интегральных микросхем, гарантируя стабильную работу наших изделий в стратегических государственных проектах».

Как заявила генеральный директор ПАО «Микрон» Гульнара Хасьянова, «Микрон» последовательно подтверждает свой статус ответственного производителя отечественной элементной базы для реализации крупных государственных проектов в различных отраслях экономики. Микросхемы «Микрона», уже получившие статус продукции российского производства первого уровня, полностью закрывают все потребности существующих и перспективных проектов, связанных с внедрением государственных электронных документов и развитием банковской сферы. В ближайшее время мы планируем получить подтверждение статуса интегральных схем российского производства первого уровня для наших RFID-чипов и микроконтроллеров, используемых в транспортных приложениях, маркировке товаров и в системных проектах в области «Интернета вещей».

[~DETAIL_TEXT] =>

Министерство промышленности и торговли РФ подтвердило соответствие разработанных АО «НИИ Молекулярной Электроники» (АО «НИИМЭ») и производимых ПАО «Микрон» интегральных микросхем К5016ХС2 (MIK51AB72D) и К5016ТС01-04Д/Б (MIK51AB144D-04) требованиям, предъявляемым к интегральным схемам российского производства первого уровня. Микросхемы предназначены для использования в системах защищенного доступа, предъявляющих высокие требования к уровню защиты информации.

Интегральная микросхема первого уровня К5016ХС2 с 2015 года используется ФГУП «Гознак» для изготовления паспортно-визовых документов граждан РФ нового поколения (биометрические загранпаспорта) с бесконтактным интерфейсом, поддержкой российских и международных стандартов криптографии. Интегральная микросхема первого уровня К5016ТС01-04Д/Б с расширенной памятью планируется к использованию в различных государственных электронных идентификационных документах: удостоверении личности гражданина РФ, удостоверении военнослужащего, биометрическом загранпаспорте, полисе ОМС, электронном водительском удостоверении и др. Ранее Министерство промышленности и торговли РФ подтвердило статус интегральной схемы российского производства первого уровня для разработанной в АО «НИИМЭ» микросхемы К5016ВГ1 (MIK51SC72D), которая используется при создании отечественных банковских карт НСПК «Мир».

Разработанные специалистами АО «НИИМЭ» микрочипы соответствуют всем российским и международным требованиям к защите информации: аппаратные и программные составляющие интегральных микросхем предусматривают поддержку многочисленных стандартов шифрования, имеют многоуровневую систему пассивной и активной защиты от несанкционированного чтения и модификации информации, зондирования внутренних компонентов и сигнальных линий. Их использование в государственных электронных документах обеспечивает надежное хранение персональных данных и информационную безопасность граждан.

Генеральный директор АО «НИИМЭ», академик РАН Геннадий Красников отметил: «Многие микросхемы иностранного происхождения имеют вредоносные недекларированные возможности, которые закладываются еще на этапе их проектирования или создания IP-блоков, что делает небезопасным их использование в государственных системах. За последние несколько лет мы разработали новые технологии, укрепив отечественную микроэлектронную научную школу, и уже владеем полным циклом разработки и создания интегральных микросхем, гарантируя стабильную работу наших изделий в стратегических государственных проектах».

Как заявила генеральный директор ПАО «Микрон» Гульнара Хасьянова, «Микрон» последовательно подтверждает свой статус ответственного производителя отечественной элементной базы для реализации крупных государственных проектов в различных отраслях экономики. Микросхемы «Микрона», уже получившие статус продукции российского производства первого уровня, полностью закрывают все потребности существующих и перспективных проектов, связанных с внедрением государственных электронных документов и развитием банковской сферы. В ближайшее время мы планируем получить подтверждение статуса интегральных схем российского производства первого уровня для наших RFID-чипов и микроконтроллеров, используемых в транспортных приложениях, маркировке товаров и в системных проектах в области «Интернета вещей».

[DETAIL_TEXT_TYPE] => html [~DETAIL_TEXT_TYPE] => html [PREVIEW_TEXT] => Министерство промышленности и торговли РФ подтвердило соответствие разработанных АО «НИИ Молекулярной Электроники» (АО «НИИМЭ») и производимых ПАО «Микрон» интегральных микросхем К5016ХС2 (MIK51AB72D) и К5016ТС01-04Д/Б (MIK51AB144D-04) требованиям, предъявляемым к интегральным схемам российского производства первого уровня. Микросхемы предназначены для использования в системах защищенного доступа, предъявляющих высокие требования к уровню защиты информации. [~PREVIEW_TEXT] => Министерство промышленности и торговли РФ подтвердило соответствие разработанных АО «НИИ Молекулярной Электроники» (АО «НИИМЭ») и производимых ПАО «Микрон» интегральных микросхем К5016ХС2 (MIK51AB72D) и К5016ТС01-04Д/Б (MIK51AB144D-04) требованиям, предъявляемым к интегральным схемам российского производства первого уровня. Микросхемы предназначены для использования в системах защищенного доступа, предъявляющих высокие требования к уровню защиты информации. [PREVIEW_TEXT_TYPE] => text [~PREVIEW_TEXT_TYPE] => text [PREVIEW_PICTURE] => [~PREVIEW_PICTURE] => [LANG_DIR] => /en/ [~LANG_DIR] => /en/ [SORT] => 500 [~SORT] => 500 [CODE] => razrabotannye-niime-mikroskhemy-dlya-elektronnykh-dokumentov-poluchili-status-produktsii-otechestven [~CODE] => razrabotannye-niime-mikroskhemy-dlya-elektronnykh-dokumentov-poluchili-status-produktsii-otechestven [EXTERNAL_ID] => 362 [~EXTERNAL_ID] => 362 [IBLOCK_TYPE_ID] => press_center [~IBLOCK_TYPE_ID] => press_center [IBLOCK_CODE] => novosti [~IBLOCK_CODE] => novosti [IBLOCK_EXTERNAL_ID] => [~IBLOCK_EXTERNAL_ID] => [LID] => s2 [~LID] => s2 [EDIT_LINK] => [DELETE_LINK] => [DISPLAY_ACTIVE_FROM] => 27.01.2017 [IPROPERTY_VALUES] => Array ( ) [FIELDS] => Array ( ) [DISPLAY_PROPERTIES] => Array ( ) ) [1] => Array ( [ID] => 361 [~ID] => 361 [IBLOCK_ID] => 12 [~IBLOCK_ID] => 12 [IBLOCK_SECTION_ID] => [~IBLOCK_SECTION_ID] => [NAME] => Открыт первый в России Центр оценки квалификаций в сфере микроэлектроники [~NAME] => Открыт первый в России Центр оценки квалификаций в сфере микроэлектроники [ACTIVE_FROM] => 28.12.2016 [~ACTIVE_FROM] => 28.12.2016 [TIMESTAMP_X] => 28.12.2016 16:19:44 [~TIMESTAMP_X] => 28.12.2016 16:19:44 [DETAIL_PAGE_URL] => /press_center/novosti/361/ [~DETAIL_PAGE_URL] => /press_center/novosti/361/ [LIST_PAGE_URL] => /press_center/novosti/ [~LIST_PAGE_URL] => /press_center/novosti/ [DETAIL_TEXT] =>

Пока ожидается вступление в силу закона N 238-ФЗ «О независимой оценке квалификации» (01 января 2017 года), регулирующего процесс внедрения профессиональных стандартов и создание Центров оценки квалификаций (ЦОК) в РФ, в АО «НИИМЭ» уже создан и начал свою работу первый в стране Центр оценки квалификаций в сфере микроэлектроники.


Решением Совета по профессиональным квалификациям в наноиндустрии от 23 декабря 2016 года АО «НИИМЭ» наделено полномочиями Центра оценки квалификации.


Заседание Совета по профессиональным квалификациям в наноиндустрии на базе НП «Межотраслевое объединение наноиндустрии» состоялось 26 декабря в здании Роснано и прошло под председательством руководителя Совета, генерального директора Фонда инфраструктурных и образовательных программ РОСНАНО, члена Национального совета при Президенте Российской Федерации по профессиональным квалификациям Андрея Геннадьевича Свинаренко. В заседании приняла участие заместитель генерального директора по организационному развитию и управлению персоналом АО «НИИМЭ», член Совета по квалификациям в наноиндустрии Лилиана Поликарпова. 


На Совете по профессиональным квалификациям принято решение о наделении полномочиями ЦОК АО «НИИМЭ» по проведению независимой оценки для специалистов нанотехнологического профиля в форме профессионального экзамена по восьми профессиональным стандартам:

  • «Специалист по проектному управлению в области разработки и постановки производства полупроводниковых приборов и систем с использованием нанотехнологий)»;
  • «Инженер-проектировщик фотошаблонов для производства наносистем (включая наносенсорику и интегральные схемы)»;
  • «Специалист по проектированию и обслуживанию чистых производственных помещений для микро-и наноэлектронных производств»;
  • «Инженер-технолог в области производства наногетерострук-турных СВЧ-монолитных интегральных схем»;
  • «Инженер-конструктор в области производства наногетерострук-турных СВЧ-монолитных интегральных схем»;
  • «Инженер в области проектирования и сопровождения интегральных схем и систем на кристалле»;
  • «Специалист по функциональной верификации и разработке средств функционального контроля интегральных схем»;
  • «Инженер в области разработки цифровых библиотек стандартных ячеек и сложнофункциональных блоков».

Стоит добавить, что специалисты ЦОКа в 2015-2016 гг. уже принимали участие в разработке профессиональных квалификаций, комплектов оценочных средств, в разработке и апробации процедур оценки квалификаций в наноиндустрии.


Решением Совета по профессиональным квалификациям в наноиндустрии от 26 декабря 2016 года признаны результаты оценки квалификации 20 соискателей, которые успешно прошли профессиональный экзамен в ЦОК АО «НИИМЭ». Всем им будут выданы соответствующие сертификаты.

«С 1 января 2017 года специалисты могут пройти процедуру независимой оценки квалификации в нашем Центре, – сообщила заместитель генерального директора АО «НИИМЭ» Л.В.Поликарпова. – По результатам независимой оценки сотрудник получает свидетельство, подтверждающее уровень его квалификации, в случае успешного прохождения экзамена. Либо заключение о причинах получения отрицательного результата по итогам экзамена».

[~DETAIL_TEXT] =>

Пока ожидается вступление в силу закона N 238-ФЗ «О независимой оценке квалификации» (01 января 2017 года), регулирующего процесс внедрения профессиональных стандартов и создание Центров оценки квалификаций (ЦОК) в РФ, в АО «НИИМЭ» уже создан и начал свою работу первый в стране Центр оценки квалификаций в сфере микроэлектроники.


Решением Совета по профессиональным квалификациям в наноиндустрии от 23 декабря 2016 года АО «НИИМЭ» наделено полномочиями Центра оценки квалификации.


Заседание Совета по профессиональным квалификациям в наноиндустрии на базе НП «Межотраслевое объединение наноиндустрии» состоялось 26 декабря в здании Роснано и прошло под председательством руководителя Совета, генерального директора Фонда инфраструктурных и образовательных программ РОСНАНО, члена Национального совета при Президенте Российской Федерации по профессиональным квалификациям Андрея Геннадьевича Свинаренко. В заседании приняла участие заместитель генерального директора по организационному развитию и управлению персоналом АО «НИИМЭ», член Совета по квалификациям в наноиндустрии Лилиана Поликарпова. 


На Совете по профессиональным квалификациям принято решение о наделении полномочиями ЦОК АО «НИИМЭ» по проведению независимой оценки для специалистов нанотехнологического профиля в форме профессионального экзамена по восьми профессиональным стандартам:

  • «Специалист по проектному управлению в области разработки и постановки производства полупроводниковых приборов и систем с использованием нанотехнологий)»;
  • «Инженер-проектировщик фотошаблонов для производства наносистем (включая наносенсорику и интегральные схемы)»;
  • «Специалист по проектированию и обслуживанию чистых производственных помещений для микро-и наноэлектронных производств»;
  • «Инженер-технолог в области производства наногетерострук-турных СВЧ-монолитных интегральных схем»;
  • «Инженер-конструктор в области производства наногетерострук-турных СВЧ-монолитных интегральных схем»;
  • «Инженер в области проектирования и сопровождения интегральных схем и систем на кристалле»;
  • «Специалист по функциональной верификации и разработке средств функционального контроля интегральных схем»;
  • «Инженер в области разработки цифровых библиотек стандартных ячеек и сложнофункциональных блоков».

Стоит добавить, что специалисты ЦОКа в 2015-2016 гг. уже принимали участие в разработке профессиональных квалификаций, комплектов оценочных средств, в разработке и апробации процедур оценки квалификаций в наноиндустрии.


Решением Совета по профессиональным квалификациям в наноиндустрии от 26 декабря 2016 года признаны результаты оценки квалификации 20 соискателей, которые успешно прошли профессиональный экзамен в ЦОК АО «НИИМЭ». Всем им будут выданы соответствующие сертификаты.

«С 1 января 2017 года специалисты могут пройти процедуру независимой оценки квалификации в нашем Центре, – сообщила заместитель генерального директора АО «НИИМЭ» Л.В.Поликарпова. – По результатам независимой оценки сотрудник получает свидетельство, подтверждающее уровень его квалификации, в случае успешного прохождения экзамена. Либо заключение о причинах получения отрицательного результата по итогам экзамена».

[DETAIL_TEXT_TYPE] => html [~DETAIL_TEXT_TYPE] => html [PREVIEW_TEXT] => Открыт первый в России Центр оценки квалификаций в сфере микроэлектроники [~PREVIEW_TEXT] => Открыт первый в России Центр оценки квалификаций в сфере микроэлектроники [PREVIEW_TEXT_TYPE] => text [~PREVIEW_TEXT_TYPE] => text [PREVIEW_PICTURE] => [~PREVIEW_PICTURE] => [LANG_DIR] => /en/ [~LANG_DIR] => /en/ [SORT] => 500 [~SORT] => 500 [CODE] => otkryt-pervyy-v-rossii-tsentr-otsenki-kvalifikatsiy-v-sfere-mikroelektroniki [~CODE] => otkryt-pervyy-v-rossii-tsentr-otsenki-kvalifikatsiy-v-sfere-mikroelektroniki [EXTERNAL_ID] => 361 [~EXTERNAL_ID] => 361 [IBLOCK_TYPE_ID] => press_center [~IBLOCK_TYPE_ID] => press_center [IBLOCK_CODE] => novosti [~IBLOCK_CODE] => novosti [IBLOCK_EXTERNAL_ID] => [~IBLOCK_EXTERNAL_ID] => [LID] => s2 [~LID] => s2 [EDIT_LINK] => [DELETE_LINK] => [DISPLAY_ACTIVE_FROM] => 28.12.2016 [IPROPERTY_VALUES] => Array ( ) [FIELDS] => Array ( ) [DISPLAY_PROPERTIES] => Array ( ) ) [2] => Array ( [ID] => 360 [~ID] => 360 [IBLOCK_ID] => 12 [~IBLOCK_ID] => 12 [IBLOCK_SECTION_ID] => [~IBLOCK_SECTION_ID] => [NAME] => «НИИМЭ» проведет секцию микроэлектроники в рамках 59-ой научной конференции МФТИ [~NAME] => «НИИМЭ» проведет секцию микроэлектроники в рамках 59-ой научной конференции МФТИ [ACTIVE_FROM] => 27.10.2016 [~ACTIVE_FROM] => 27.10.2016 [TIMESTAMP_X] => 27.10.2016 14:57:29 [~TIMESTAMP_X] => 27.10.2016 14:57:29 [DETAIL_PAGE_URL] => /press_center/novosti/360/ [~DETAIL_PAGE_URL] => /press_center/novosti/360/ [LIST_PAGE_URL] => /press_center/novosti/ [~LIST_PAGE_URL] => /press_center/novosti/ [DETAIL_TEXT] =>

23 ноября 2016 года в зале научно-технических советов АО «НИИМЭ» в г. Зеленоград состоится секция микроэлектроники в рамках ежегодной научно-практической 59-ой конференции  МФТИ с международным участием. Мероприятие нацелено на демонстрацию современных взглядов на состояние и тренды микроэлектронной индустрии.

В этом году конференция, состоящая из комплекса секций для специалистов по 13 ключевым научным направлениям, приурочена к празднованию 70-летнего юбилея Московского Физико-Технического Института и будет проходить с 21 по 26 ноября на его территории.

В секции микроэлектроники примут участие студенты кафедры «Микро- и наноэлектроника» при НИИМЭ, а также учащиеся других базовых кафедр факультета ФФКЭ и аспиранты МФТИ, студенты МИЭТ и «МГТУ им. Н. Э. Баумана». На мероприятии будут обсуждаться актуальные проблемы фундаментальных и прикладных наук в области физики.  Молодые специалисты  и преподаватели базовой кафедры НИИМЭ  представят научные свои проекты и обсудят основные тенденции развития технологий отечественной микроэлектронной промышленности.

Комиссия в составе преподавателей базовой кафедры подведет итоги представленных работ, авторы лучших из которых будут награждены дипломами с правом бесплатной публикации научной статьи в журнале «Труды МФТИ». Также все участники секции смогут опубликовать основные тезисы своих исследований в научном сборнике конференции.

[~DETAIL_TEXT] =>

23 ноября 2016 года в зале научно-технических советов АО «НИИМЭ» в г. Зеленоград состоится секция микроэлектроники в рамках ежегодной научно-практической 59-ой конференции  МФТИ с международным участием. Мероприятие нацелено на демонстрацию современных взглядов на состояние и тренды микроэлектронной индустрии.

В этом году конференция, состоящая из комплекса секций для специалистов по 13 ключевым научным направлениям, приурочена к празднованию 70-летнего юбилея Московского Физико-Технического Института и будет проходить с 21 по 26 ноября на его территории.

В секции микроэлектроники примут участие студенты кафедры «Микро- и наноэлектроника» при НИИМЭ, а также учащиеся других базовых кафедр факультета ФФКЭ и аспиранты МФТИ, студенты МИЭТ и «МГТУ им. Н. Э. Баумана». На мероприятии будут обсуждаться актуальные проблемы фундаментальных и прикладных наук в области физики.  Молодые специалисты  и преподаватели базовой кафедры НИИМЭ  представят научные свои проекты и обсудят основные тенденции развития технологий отечественной микроэлектронной промышленности.

Комиссия в составе преподавателей базовой кафедры подведет итоги представленных работ, авторы лучших из которых будут награждены дипломами с правом бесплатной публикации научной статьи в журнале «Труды МФТИ». Также все участники секции смогут опубликовать основные тезисы своих исследований в научном сборнике конференции.

[DETAIL_TEXT_TYPE] => html [~DETAIL_TEXT_TYPE] => html [PREVIEW_TEXT] =>

23 ноября 2016 года в зале научно-технических советов АО «НИИМЭ» в г. Зеленоград состоится секция микроэлектроники в рамках ежегодной научно-практической 59-ой конференции  МФТИ с международным участием. Мероприятие нацелено на демонстрацию современных взглядов на состояние и тренды микроэлектронной индустрии.

[~PREVIEW_TEXT] =>

23 ноября 2016 года в зале научно-технических советов АО «НИИМЭ» в г. Зеленоград состоится секция микроэлектроники в рамках ежегодной научно-практической 59-ой конференции  МФТИ с международным участием. Мероприятие нацелено на демонстрацию современных взглядов на состояние и тренды микроэлектронной индустрии.

[PREVIEW_TEXT_TYPE] => html [~PREVIEW_TEXT_TYPE] => html [PREVIEW_PICTURE] => [~PREVIEW_PICTURE] => [LANG_DIR] => /en/ [~LANG_DIR] => /en/ [SORT] => 500 [~SORT] => 500 [CODE] => niime-provedet-sektsiyu-mikroelektroniki-v-ramkakh-59-oy-nauchnoy-konferentsii-mfti [~CODE] => niime-provedet-sektsiyu-mikroelektroniki-v-ramkakh-59-oy-nauchnoy-konferentsii-mfti [EXTERNAL_ID] => 360 [~EXTERNAL_ID] => 360 [IBLOCK_TYPE_ID] => press_center [~IBLOCK_TYPE_ID] => press_center [IBLOCK_CODE] => novosti [~IBLOCK_CODE] => novosti [IBLOCK_EXTERNAL_ID] => [~IBLOCK_EXTERNAL_ID] => [LID] => s2 [~LID] => s2 [EDIT_LINK] => [DELETE_LINK] => [DISPLAY_ACTIVE_FROM] => 27.10.2016 [IPROPERTY_VALUES] => Array ( ) [FIELDS] => Array ( ) [DISPLAY_PROPERTIES] => Array ( ) ) ) [ELEMENTS] => Array ( [0] => 362 [1] => 361 [2] => 360 ) [NAV_STRING] => [NAV_CACHED_DATA] => [NAV_RESULT] => CIBlockResult Object ( [arIBlockMultProps] => Array ( ) [arIBlockConvProps] => [arIBlockAllProps] => Array ( ) [arIBlockNumProps] => Array ( ) [arIBlockLongProps] => [nInitialSize] => [table_id] => [strDetailUrl] => [strSectionUrl] => [strListUrl] => [arSectionContext] => [bIBlockSection] => [nameTemplate] => [_LAST_IBLOCK_ID] => 12 [_FILTER_IBLOCK_ID] => Array ( [12] => 1 ) [result] => Resource id #20 [arResult] => Array ( [0] => Array ( [ID] => 362 [IBLOCK_ID] => 12 [IBLOCK_SECTION_ID] => [NAME] => РАЗРАБОТАННЫЕ «НИИМЭ» МИКРОСХЕМЫ ДЛЯ ЭЛЕКТРОННЫХ ДОКУМЕНТОВ ПОЛУЧИЛИ СТАТУС ПРОДУКЦИИ ОТЕЧЕСТВЕННОГО ПРОИЗВОДСТВА ПЕРВОГО УРОВНЯ [ACTIVE_FROM] => 27.01.2017 [TIMESTAMP_X] => 27.01.2017 14:18:29 [DETAIL_PAGE_URL] => /press_center/novosti/#ELEMENT_ID#/ [LIST_PAGE_URL] => /press_center/novosti/ [DETAIL_TEXT] =>

Министерство промышленности и торговли РФ подтвердило соответствие разработанных АО «НИИ Молекулярной Электроники» (АО «НИИМЭ») и производимых ПАО «Микрон» интегральных микросхем К5016ХС2 (MIK51AB72D) и К5016ТС01-04Д/Б (MIK51AB144D-04) требованиям, предъявляемым к интегральным схемам российского производства первого уровня. Микросхемы предназначены для использования в системах защищенного доступа, предъявляющих высокие требования к уровню защиты информации.

Интегральная микросхема первого уровня К5016ХС2 с 2015 года используется ФГУП «Гознак» для изготовления паспортно-визовых документов граждан РФ нового поколения (биометрические загранпаспорта) с бесконтактным интерфейсом, поддержкой российских и международных стандартов криптографии. Интегральная микросхема первого уровня К5016ТС01-04Д/Б с расширенной памятью планируется к использованию в различных государственных электронных идентификационных документах: удостоверении личности гражданина РФ, удостоверении военнослужащего, биометрическом загранпаспорте, полисе ОМС, электронном водительском удостоверении и др. Ранее Министерство промышленности и торговли РФ подтвердило статус интегральной схемы российского производства первого уровня для разработанной в АО «НИИМЭ» микросхемы К5016ВГ1 (MIK51SC72D), которая используется при создании отечественных банковских карт НСПК «Мир».

Разработанные специалистами АО «НИИМЭ» микрочипы соответствуют всем российским и международным требованиям к защите информации: аппаратные и программные составляющие интегральных микросхем предусматривают поддержку многочисленных стандартов шифрования, имеют многоуровневую систему пассивной и активной защиты от несанкционированного чтения и модификации информации, зондирования внутренних компонентов и сигнальных линий. Их использование в государственных электронных документах обеспечивает надежное хранение персональных данных и информационную безопасность граждан.

Генеральный директор АО «НИИМЭ», академик РАН Геннадий Красников отметил: «Многие микросхемы иностранного происхождения имеют вредоносные недекларированные возможности, которые закладываются еще на этапе их проектирования или создания IP-блоков, что делает небезопасным их использование в государственных системах. За последние несколько лет мы разработали новые технологии, укрепив отечественную микроэлектронную научную школу, и уже владеем полным циклом разработки и создания интегральных микросхем, гарантируя стабильную работу наших изделий в стратегических государственных проектах».

Как заявила генеральный директор ПАО «Микрон» Гульнара Хасьянова, «Микрон» последовательно подтверждает свой статус ответственного производителя отечественной элементной базы для реализации крупных государственных проектов в различных отраслях экономики. Микросхемы «Микрона», уже получившие статус продукции российского производства первого уровня, полностью закрывают все потребности существующих и перспективных проектов, связанных с внедрением государственных электронных документов и развитием банковской сферы. В ближайшее время мы планируем получить подтверждение статуса интегральных схем российского производства первого уровня для наших RFID-чипов и микроконтроллеров, используемых в транспортных приложениях, маркировке товаров и в системных проектах в области «Интернета вещей».

[DETAIL_TEXT_TYPE] => html [PREVIEW_TEXT] => Министерство промышленности и торговли РФ подтвердило соответствие разработанных АО «НИИ Молекулярной Электроники» (АО «НИИМЭ») и производимых ПАО «Микрон» интегральных микросхем К5016ХС2 (MIK51AB72D) и К5016ТС01-04Д/Б (MIK51AB144D-04) требованиям, предъявляемым к интегральным схемам российского производства первого уровня. Микросхемы предназначены для использования в системах защищенного доступа, предъявляющих высокие требования к уровню защиты информации. [PREVIEW_TEXT_TYPE] => text [PREVIEW_PICTURE] => [LANG_DIR] => /en/ [SORT] => 500 [CODE] => razrabotannye-niime-mikroskhemy-dlya-elektronnykh-dokumentov-poluchili-status-produktsii-otechestven [EXTERNAL_ID] => 362 [IBLOCK_TYPE_ID] => press_center [IBLOCK_CODE] => novosti [IBLOCK_EXTERNAL_ID] => [LID] => s2 ) [1] => Array ( [ID] => 361 [IBLOCK_ID] => 12 [IBLOCK_SECTION_ID] => [NAME] => Открыт первый в России Центр оценки квалификаций в сфере микроэлектроники [ACTIVE_FROM] => 28.12.2016 [TIMESTAMP_X] => 28.12.2016 16:19:44 [DETAIL_PAGE_URL] => /press_center/novosti/#ELEMENT_ID#/ [LIST_PAGE_URL] => /press_center/novosti/ [DETAIL_TEXT] =>

Пока ожидается вступление в силу закона N 238-ФЗ «О независимой оценке квалификации» (01 января 2017 года), регулирующего процесс внедрения профессиональных стандартов и создание Центров оценки квалификаций (ЦОК) в РФ, в АО «НИИМЭ» уже создан и начал свою работу первый в стране Центр оценки квалификаций в сфере микроэлектроники.


Решением Совета по профессиональным квалификациям в наноиндустрии от 23 декабря 2016 года АО «НИИМЭ» наделено полномочиями Центра оценки квалификации.


Заседание Совета по профессиональным квалификациям в наноиндустрии на базе НП «Межотраслевое объединение наноиндустрии» состоялось 26 декабря в здании Роснано и прошло под председательством руководителя Совета, генерального директора Фонда инфраструктурных и образовательных программ РОСНАНО, члена Национального совета при Президенте Российской Федерации по профессиональным квалификациям Андрея Геннадьевича Свинаренко. В заседании приняла участие заместитель генерального директора по организационному развитию и управлению персоналом АО «НИИМЭ», член Совета по квалификациям в наноиндустрии Лилиана Поликарпова. 


На Совете по профессиональным квалификациям принято решение о наделении полномочиями ЦОК АО «НИИМЭ» по проведению независимой оценки для специалистов нанотехнологического профиля в форме профессионального экзамена по восьми профессиональным стандартам:

  • «Специалист по проектному управлению в области разработки и постановки производства полупроводниковых приборов и систем с использованием нанотехнологий)»;
  • «Инженер-проектировщик фотошаблонов для производства наносистем (включая наносенсорику и интегральные схемы)»;
  • «Специалист по проектированию и обслуживанию чистых производственных помещений для микро-и наноэлектронных производств»;
  • «Инженер-технолог в области производства наногетерострук-турных СВЧ-монолитных интегральных схем»;
  • «Инженер-конструктор в области производства наногетерострук-турных СВЧ-монолитных интегральных схем»;
  • «Инженер в области проектирования и сопровождения интегральных схем и систем на кристалле»;
  • «Специалист по функциональной верификации и разработке средств функционального контроля интегральных схем»;
  • «Инженер в области разработки цифровых библиотек стандартных ячеек и сложнофункциональных блоков».

Стоит добавить, что специалисты ЦОКа в 2015-2016 гг. уже принимали участие в разработке профессиональных квалификаций, комплектов оценочных средств, в разработке и апробации процедур оценки квалификаций в наноиндустрии.


Решением Совета по профессиональным квалификациям в наноиндустрии от 26 декабря 2016 года признаны результаты оценки квалификации 20 соискателей, которые успешно прошли профессиональный экзамен в ЦОК АО «НИИМЭ». Всем им будут выданы соответствующие сертификаты.

«С 1 января 2017 года специалисты могут пройти процедуру независимой оценки квалификации в нашем Центре, – сообщила заместитель генерального директора АО «НИИМЭ» Л.В.Поликарпова. – По результатам независимой оценки сотрудник получает свидетельство, подтверждающее уровень его квалификации, в случае успешного прохождения экзамена. Либо заключение о причинах получения отрицательного результата по итогам экзамена».

[DETAIL_TEXT_TYPE] => html [PREVIEW_TEXT] => Открыт первый в России Центр оценки квалификаций в сфере микроэлектроники [PREVIEW_TEXT_TYPE] => text [PREVIEW_PICTURE] => [LANG_DIR] => /en/ [SORT] => 500 [CODE] => otkryt-pervyy-v-rossii-tsentr-otsenki-kvalifikatsiy-v-sfere-mikroelektroniki [EXTERNAL_ID] => 361 [IBLOCK_TYPE_ID] => press_center [IBLOCK_CODE] => novosti [IBLOCK_EXTERNAL_ID] => [LID] => s2 ) [2] => Array ( [ID] => 360 [IBLOCK_ID] => 12 [IBLOCK_SECTION_ID] => [NAME] => «НИИМЭ» проведет секцию микроэлектроники в рамках 59-ой научной конференции МФТИ [ACTIVE_FROM] => 27.10.2016 [TIMESTAMP_X] => 27.10.2016 14:57:29 [DETAIL_PAGE_URL] => /press_center/novosti/#ELEMENT_ID#/ [LIST_PAGE_URL] => /press_center/novosti/ [DETAIL_TEXT] =>

23 ноября 2016 года в зале научно-технических советов АО «НИИМЭ» в г. Зеленоград состоится секция микроэлектроники в рамках ежегодной научно-практической 59-ой конференции  МФТИ с международным участием. Мероприятие нацелено на демонстрацию современных взглядов на состояние и тренды микроэлектронной индустрии.

В этом году конференция, состоящая из комплекса секций для специалистов по 13 ключевым научным направлениям, приурочена к празднованию 70-летнего юбилея Московского Физико-Технического Института и будет проходить с 21 по 26 ноября на его территории.

В секции микроэлектроники примут участие студенты кафедры «Микро- и наноэлектроника» при НИИМЭ, а также учащиеся других базовых кафедр факультета ФФКЭ и аспиранты МФТИ, студенты МИЭТ и «МГТУ им. Н. Э. Баумана». На мероприятии будут обсуждаться актуальные проблемы фундаментальных и прикладных наук в области физики.  Молодые специалисты  и преподаватели базовой кафедры НИИМЭ  представят научные свои проекты и обсудят основные тенденции развития технологий отечественной микроэлектронной промышленности.

Комиссия в составе преподавателей базовой кафедры подведет итоги представленных работ, авторы лучших из которых будут награждены дипломами с правом бесплатной публикации научной статьи в журнале «Труды МФТИ». Также все участники секции смогут опубликовать основные тезисы своих исследований в научном сборнике конференции.

[DETAIL_TEXT_TYPE] => html [PREVIEW_TEXT] =>

23 ноября 2016 года в зале научно-технических советов АО «НИИМЭ» в г. Зеленоград состоится секция микроэлектроники в рамках ежегодной научно-практической 59-ой конференции  МФТИ с международным участием. Мероприятие нацелено на демонстрацию современных взглядов на состояние и тренды микроэлектронной индустрии.

[PREVIEW_TEXT_TYPE] => html [PREVIEW_PICTURE] => [LANG_DIR] => /en/ [SORT] => 500 [CODE] => niime-provedet-sektsiyu-mikroelektroniki-v-ramkakh-59-oy-nauchnoy-konferentsii-mfti [EXTERNAL_ID] => 360 [IBLOCK_TYPE_ID] => press_center [IBLOCK_CODE] => novosti [IBLOCK_EXTERNAL_ID] => [LID] => s2 ) ) [arReplacedAliases] => [arResultAdd] => [bNavStart] => 1 [bShowAll] => [NavNum] => 2 [NavPageCount] => 10 [NavPageNomer] => 1 [NavPageSize] => 3 [NavShowAll] => [NavRecordCount] => 30 [bFirstPrintNav] => 1 [PAGEN] => 1 [SIZEN] => 3 [SESS_SIZEN] => [SESS_ALL] => [SESS_PAGEN] => [add_anchor] => [bPostNavigation] => [bFromArray] => [bFromLimited] => 1 [sSessInitAdd] => [nPageWindow] => 5 [nSelectedCount] => 30 [arGetNextCache] => Array ( [ID] => [IBLOCK_ID] => [IBLOCK_SECTION_ID] => [NAME] => [ACTIVE_FROM] => [TIMESTAMP_X] => [DETAIL_PAGE_URL] => [LIST_PAGE_URL] => [DETAIL_TEXT] => 1 [DETAIL_TEXT_TYPE] => [PREVIEW_TEXT] => 1 [PREVIEW_TEXT_TYPE] => [PREVIEW_PICTURE] => [LANG_DIR] => [SORT] => [CODE] => [EXTERNAL_ID] => [IBLOCK_TYPE_ID] => [IBLOCK_CODE] => [IBLOCK_EXTERNAL_ID] => [LID] => ) [bDescPageNumbering] => [arUserFields] => [usedUserFields] => [SqlTraceIndex] => [DB] => CDatabase Object ( [version] => [escL] => ` [escR] => ` [alias_length] => 256 [DBName] => niimeru_bitrix [DBHost] => niimeru.mysql [DBLogin] => niimeru_bitrix [DBPassword] => M/WXMf9x [bConnected] => 1 [db_Conn] => Resource id #2 [debug] => [DebugToFile] => [ShowSqlStat] => [db_Error] => [db_ErrorSQL] => [result] => [type] => MYSQL [column_cache] => Array ( [b_captcha] => Array ( [DATE_CREATE] => Array ( [NAME] => DATE_CREATE [TYPE] => datetime ) [IP] => Array ( [NAME] => IP [TYPE] => string ) [CODE] => Array ( [NAME] => CODE [TYPE] => string ) [ID] => Array ( [NAME] => ID [TYPE] => string ) ) ) [bModuleConnection] => [bNodeConnection] => [node_id] => [obSlave] => [cntQuery] => 0 [timeQuery] => 0 [arQueryDebug] => Array ( ) [sqlTracker] => ) [NavRecordCountChangeDisable] => [is_filtered] => [nStartPage] => 1 [nEndPage] => 5 [resultObject] => ) [NAV_PARAM] => Array ( ) )

Новости

Архив

© АО НИИМЭ 2016 -2017