Главной движущей силой развития института являются его сотрудники. Наши ценности не были спущены сверху, а родились из открытого диалога внутри коллектива. К ним относятся командная работа, надежность, лидерство и развитие, инициатива и ответственность, системность мышления и инженерный подход к решению задач. В НИИМЭ важно быть не только профессионалом, но и частью команды. Мы приветствуем активных и увлеченных людей, способных вести команду за собой или стать частью команды.

Фундаментальные исследования

НИИМЭ занимается фундаментальными и поисковыми исследованиями в области физики полупроводников, изучает новые физические принципы энергонезависимой памяти, создает модели наноэлектронных компонентов.

Технологии перспективных СБИС:

  • Разработка технологии многолучевой электронной литографии для следующих поколений СБИС 45 нм, 28 нм, 14 нм и менее, позволяющей создание прямого изображения на пластине без изготовления комплектов масок;
  • Разработка процессов переноса изображения через маску электронорезиста и интеграция их с традиционной технологией КМОП на базе оптической литографии для обеспечения производительности производства;
  • Разработка базовой технологии формирования многоуровневой разводки для следующих поколений СБИС 45 нм, 28 нм, 14 нм и менее на базе медной металлизации и low-k диэлектрика;
  • Разработка методов анализа состояний систем с металлическим затвором и подзатворным high-k диэлектриком, а также методов исследования механизмов захвата и удержания зарядов в системах нано-кристаллов кремния;
  • Разработка моделей и технологии создания МДП систем с металлическим затвором и диэлектриком с высокой диэлектрической проницаемостью (HfO2).
ФХАЛ

Энергонезависимая память:

  • Исследования и моделирование элементов энергонезависимой памяти на основе MONOS структур и FRAM MD на основе сегнетоэлектриков. Исследование недеструктивных методов считывания информации с ячеек FRAM. Исследование магнитной памяти;
  • Системы композитных подзатворных диэлектриков;
  • Исследование свойств границ разделов в системах композитных подзатворных диэлектриков с использованием материалов с высокой диэлектрической проницаемостью (напр. Si/SiO2(x)/HfO2/HfAlOx/Al).

Функциональная электроника:

  • Исследования технологии МЭМС на основе гетероструктур кремний-сегнетоэлектрик для создания широкого спектра датчиков и акселерометров;
  • Разработка технологий 3-D сборки для интеграции в виде «система-в-корпусе» (SiP);
  • Разработка приборно-технологических моделей для базовых и перспективных технологий.
ФХАЛ

Форум «Микроэлектроника»

НИИМЭ выступает организатором российского форума «Микроэлектроника». Это ключевое событие года в мире электронных технологий. Он является площадкой для всестороннего обсуждения перспективных направлений развития отечественной микроэлектроники с участием представителей научного сообщества, государственных структур и бизнеса. Во время работы форума вырабатываются совместные решения, направленные на защиту национальных интересов и обеспечение технологического суверенитета.

Форум «Микроэлектроника» опирается на традиции Гурзуфской Всесоюзной школы микроэлектроники. В 2015 году по инициативе НИИМЭ и благодаря усилиям ведущих предприятий отрасли эти традиции были восстановлены. На первый форум собралось более 300 представителей микроэлектроники из 50 компаний России, стран ближнего зарубежья, Европы и Юго-Восточной Азии.

ФХАЛ

Популярность форума растет из года в год. Сегодня в Форуме участвует уже более трех тысяч представителей компаний и организаций отрасли. Он включает в себя пленарные заседания, научно-практические конференции в 13 секциях, две предконференции, Школу молодых ученых, насыщенную выставочную, деловую программу.

Во время форума «Микроэлектроника» обсуждаются актуальные проблемы, начиная от вопросов технологий производства микроэлектроники до специального технологического оборудования и чистых материалов, развития квантовых технологий, нейроморфных вычислений и искусственного интеллекта. Форум насыщен различными тематическими мероприятиями: круглыми столами, открытыми дискуссиями по проблемам развития и мерам поддержки, мастер-классами.

Форум проводится при поддержке Министерства промышленности и торговли, Министерства образования и науки. Его партнерами выступают фонды развития и крупнейшие российские технологические компании.

ФХАЛ

Цели Форума:

  • Поиск новых возможностей, выдвижение новых идей и решений для развития микроэлектронных технологий, разработки специального технологического оборудования и создания сверхчистых материалов;
  • Укрепление горизонтальных межотраслевых научно-практических и производственных связей посредством организации позитивного конструктивного взаимодействия и делового сотрудничества;
  • Поддержка заинтересованности бизнеса в создании и продвижении инновационных микроэлектронных продуктов и решений;
  • Содействие привлечению в отрасль инвестиций для реализации перспективных высокотехнологичных проектов в области микроэлектроники;
  • Формирование у участников Форума понимания глобальных изменений в индустрии и ответственности за развитие отечественной микроэлектронной отрасли;
  • Привлечение в отрасль талантливой молодежи для усиления научного потенциала российской микроэлектроники.

Подробнее о Форуме:

microelectronica.pro

ФХАЛ
Энергонезависимая память

Школа молодых ученых

НИИМЭ выступает организатором «Школы молодых учёных» (ШМУ) –крупнейшей молодёжной площадки по микроэлектронике. Она предоставляет возможности студентам, аспирантам и молодым специалистам выступить с докладами, принять участие в мастер-классах и круглых столах, а состоявшимся учёным – сделать пленарный доклад, провести мастер-класс или круглый стол.

Председатель программного комитета ШМУ – академик РАН, д.т.н., профессор, почетный профессор Московского физико-технического института, заместитель руководителя приоритетного технологического направления по электронным технологиям АО «НИИМЭ», заместитель заведующего кафедрой микро- и наноэлектроники МФТИ Евгений Сергеевич Горнев.

Конференция ШМУ решает следующие задачи:

  • Установление новых контактов между молодыми учёными и экспертами отрасли;
  • Обсуждение важнейших научных задачи микроэлектроники и выявление подходов к решению актуальных проблем;
  • Обмен новейшей научной информацией и сведениями о возможностях проведения исследований;
  • Создание новых научных проектов и внутриотраслевых исследовательских коллективов;
  • Помощь студентам, аспирантам и молодым выпускникам в развитии в науке;
  • Пополнение рядов молодых учёных в области микроэлектроники


Конференции ежегодно проводятся в рамках Форума «Микроэлектроника» с приглашением ведущих специалистов и ученых российских вузов, и академических институтов.

Энергонезависимая память
Энергонезависимая память

В 2025 году в работе ШМУ приняли участие 386 человек. Они представляли 81 научную и образовательную организацию. Было заслушано 309 докладов по ключевым направлениям микроэлектроники: проектирование и моделирование интегральных микросхем, технологические процессы микроэлектроники, интегральная фотоника, СВЧ и силовые приборы, нейроморфные вычисления и искусственный интеллект, физика микро- и наноразмерных приборов, биомедицинская электроника, системное программное обеспечение и другие.

Научные направления:

  • Моделирование структур, технологических процессов и устройств микроэлектроники;
  • Школа НИИМЭ вычислительной литографии;
  • Технологические процессы микроэлектроники;
  • Интегральная фотоника;
  • Нейроморфные вычисления и искусственный интеллект;
  • RISC-V и системное программное обеспечение;
  • СВЧ и силовые приборы микроэлектроники;
  • Квантовые технологии;
  • Физика микро- и наноразмерных приборов;
  • Биомедицинская электроника;
  • Проектирование интегральных микросхем, встраиваемых электронных систем и конечных устройств;
  • Молодёжные лаборатории в области микроэлектроники.
Энергонезависимая память

Организаторы ШМУ:

  • Научный совет ОНИТ РАН «Фундаментальные проблемы элементной базы информационно-вычислительных и управляющих систем и материалов для ее создания»;
  • Консорциум «Перспективные материалы и элементная база информационных и вычислительных систем»;
  • АО «НИИМЭ»;
  • Московский физико-технический институт – национальный исследовательский университет (МФТИ).;

Подробности по ссылке:

microelectronica.pro

Энергонезависимая память

Научный совет РАН «Квантовые технологии»

НИИМЭ принимает участие в координации фундаментальных исследований по квантовым технологиям, взаимодействуя с Российской академией наук, профильными министерствами и ведомствами.

Научный совет при президиуме РАН «Квантовые технологии» возглавляет научный руководитель АО «НИИМЭ», президент Российской академии наук, академик РАН Г. Я. Красников. Заместители председателя Научного совета: академик РАН А.А.Горбацевич, академик РАН В.Я. Панченко, академик РАН А.С. Холево.

Научный совет «Квантовые технологии» осуществляет анализ состояния и выбор приоритетов и направлений, определяет цели и задачи программ фундаментальных исследований по квантовым технологиям, проводит экспертизу «дорожных карт» и результатов фундаментальных исследований по квантовым технологиям и формирует рекомендации по их практическому использованию в различных областях науки и техники. Он участвует в подготовке научно-технических прогнозов развития основных направлений фундаментальных исследований по квантовым технологиям, а также предложений по организации наиболее актуальных с научной точки зрения программ, проектов и исследований для получения научных результатов мирового уровня в различных направлениях фундаментальных исследований по квантовым технологиям.

Скачать материалы Совета

Подробная информация о работе Совета

Энергонезависимая память

Научный совет ОНИТ РАН

НИИМЭ участвует в координации фундаментальных научных исследований в области нанотехнологий и информационных технологий.

Научный совет «Фундаментальные проблемы элементной базы информационно-вычислительных и управляющих систем и материалов для ее создания» при Отделении нанотехнологий и информационных технологий (ОНИТ) РАН решает задачи по изучению, анализу достижений и прогнозу развития отечественной и мировой науки, определению приоритетных направлений ее развития в области элементной базы информационно-вычислительных и управляющих систем и материалов для их создания. Так же Совет ведет научно-консультативное и экспертное обеспечение деятельности государственных органов и организаций, а также координирует научную и научно-техническую деятельность в области решения фундаментальных проблем элементной базы информационно-вычислительных и управляющих систем и материалов для ее создания.

Научный совет «Фундаментальные проблемы элементной базы информационно-вычислительных и управляющих систем и материалов для ее создания» при Отделении нанотехнологий и информационных технологий РАН возглавляет научный руководитель АО «НИИМЭ», президент Российской академии наук, академик РАН Г. Я. Красников.

Скачать материалы Совета (состав Совета, программы, презентации и протоколы заседаний)

2023 год
Заседание Научного Совета ОНИТ РАН по теме «Нейроморфные вычисления и элементная база для их реализации» (19 апреля, с 10:00, здание Президиума РАН, Синий зал)
2021 год
Заседание Научного совета по теме «Больше Мура и больше, чем Мур» (8 апреля 10:00, здание Президиума РАН, Синий зал)
Заседание Научного совета по теме «Состояние и перспективы развития электронного машиностроения» (ожидается в октябре)
2018 год
Заседание Научного совета (12.12.2018 г., АО «НИИМЭ»)

Журнал «Электронная техника. Серия 3. Микроэлектроника»

Научный журнал «Электронная техника. Серия 3. Микроэлектроника» посвящен современным технологиям и методам, применяемым в микроэлектронном производстве. Освещает актуальные вопросы проектирования и тестирования микросхем, архитектуры интегральных схем, новым материалам и устройствам.

Обращение главного редактора

Уважаемые читатели!

Рад сообщить вам, что начиная с 2014 года, мы возобновили выпуск научно-технического журнала «Электронная техника. Серия 3. Микроэлектроника». Теперь журнал выпускается в полноцветном варианте, что облегчает восприятие наглядного материала.

Издательство журнала «Электронная техника. Серия 3. Микроэлектроника» воссоздано решением Редакционного совета акционерного общества «Научно-исследовательского института молекулярной электроники».

Как и в предыдущие годы, журнал комплексно освещает современные достижения и проблемы микро- и наноэлектроники во всех сферах научной и производственной деятельности от технологии до экономики.

Миссия журнала состоит в оперативной публикации научных статей о новых, ранее не опубликованных значимых результатах научных исследований, а также фундаментальных и прикладных результатах их применения, наиболее полное отражение научно-исследовательской деятельности во всемирном научном информационном пространстве и популяризации науки в целом.

ФХАЛ

Также следует отметить, что в начале 2017 года журнал «Электронная техника. Серия 3. Микроэлектроника» вошёл в перечень ведущих рецензируемых научных журналов, включённых Высшей аттестационной комиссией России в список изданий, рекомендуемых для опубликования основных научных результатов диссертаций на соискание учёной степени кандидата и доктора наук, а это является своего рода гарантом качества научных статей, их актуальности и новизны.

Журнал открыт как для отечественных, так и для зарубежных авторов. Приглашаем учёных и специалистов, а также аспирантов и молодых сотрудников, специализирующихся в областях науки и производства, связанных с микроэлектроникой и наноэлектроникой, к сотрудничеству с журналом.

От имени редакции я благодарю всех Вас – наших авторов и читателей, партнеров и друзей за интерес к изданию, поддержку и сотрудничество. Желаю нам всем продуктивности и много хороших статей, а это невозможно без наших общих усилий.

С уважением,
главный редактор журнала,
доктор технических наук, академик РАН


Г.Я. Красников

ФХАЛ
Журнал «Электронная техника. Серия 3. Микроэлектроника»

О журнале

Уважаемые читатели!

Научно-технический журнал «Электронная техника. Серия 3. Микроэлектроника» зарегистрирован Федеральной службой по надзору в сфере связи и массовых коммуникаций в качестве средства массовой информации от 14.08.2013 года, регистрационное свидетельство: ПИ №ФС77-55092.

Журнал зарегистрирован в системе ISSN Международным центром ISSN в Париже под номером 2410-9932.

Журнал включен в базу данных Российского индекса научного цитирования (РИНЦ).

Журнал «Электронная техника. Серия 3. Микроэлектроника» издается на русском языке. Периодичность издания – ежеквартальная. Тираж – 500 экземпляров. На страницах журнала размещаются только авторские научные публикации.

ФХАЛ

Распространяется по подписке на территории Российской Федерации (Каталог Агентства «РОСПЕЧАТЬ», индекс 80408).

Журнал является рецензируемым изданием и рассчитан на широкий круг научной общественности (научные сотрудники, преподаватели, докторанты, аспиранты и соискатели, студенты) в России и СНГ, а также практических работников государственных учреждений и предпринимательских структур. Он придаёт большое значение подготовке квалифицированных кадров для нашей науки и промышленности. Журнал включен в базу данных Russian Science Citation Index (RSCI) на платформе Web of Science.

Учитывая сложившийся авторитет журнала, работу в нём высококвалифицированных специалистов Всероссийская аттестационная комиссия (ВАК) включила журнал «Электронная техника. Серия 3. Микроэлектроника» в число изданий, рекомендованных для публикации статей соискателей учёных степеней кандидата и доктора наук №3055 от 10.06.2024 г.

ФХАЛ

Публикуемые в журнале статьи содержат результаты фундаментальных научных исследований в следующих отраслях:

1.4.4. Физическая химия (химические науки),

2.2.2. Электронная компонентная база микро- и наноэлектроники, квантовых устройств (технические науки), 2.3.5. Математическое и программное обеспечение вычислительных систем, комплексов и компьютерных сетей (физико-математические науки).

Также публикации журнала информируют о новейших достижениях в разработке изделий и технологий специалистами в следующих группах:

05.13.05 – Элементы и устройства вычислительной техники и систем управления (технические науки),

05.13.12 – Системы автоматизации проектирования (по отраслям) (технические науки),

05.27.06 – Технология и оборудование для производства полупроводников, материалов и приборов электронной техники (технические науки).

ФХАЛ

В качестве дополнительной информации в журнале печатаются тематические обзоры, обобщающие отечественный и зарубежный опыт, краткие сообщения о значимых научных мероприятиях АО «НИИМЭ», а также наиболее интересные с научной и практической точек зрения работы молодых ученых и специалистов.

Со всеми номерами журнала вы можете познакомиться, оформив подписку непосредственно в редакции журнала. Архив журнала доступен в Научной Электронной Библиотеке (НЭБ) - головном исполнителе проекта по созданию Российского индекса научного цитирования (РИНЦ), путем покупки прав пользования электронной версией журнала.

ФХАЛ
Журнал «Микроэлектроника»

Подписка

Для удобства читателей и подписчиков мы постарались учесть несколько способов подписки, среди которых можно выбрать наиболее удобный для Вас:

1. Оформить подписку на печатные версии журналов в любом почтовом отделении по каталогу.
После осуществления платежа необходимо сообщить по электронной почте nvoronova@niime.ru.
Стоимость годовой подписки через почтовое отделение – 4969,36 руб. (стоимость одного номера – 1242,34 руб.).

Журнал зарегистрирован в системе ISSN Международным центром ISSN в Париже под номером 2410-9932.

2. Оформить подписку или приобрести отдельные выпуски непосредственно через редакцию.

Для этого необходимо заполнить бланк заказа (прил.1) и направить его в редакцию журнала по электронной почте nvoronova@niime.ru или по адресу: 124460, г. Москва, Зеленоград, улица Академика Валиева, дом 6, стр.1.  
Для физических лиц возможна оплата по квитанции в любом отделении Сбербанка России (прил.2). Для юридических лиц счёт-фактура и накладные выставляются только по факту оплаты. Юридическим и физическим лицам необходимо отправить по электронной почте nvoronova@niime.ru отсканированную квитанцию или платежное поручение об оплате подписки.
Стоимость годовой подписки в редакции – 4800 руб. (стоимость одного номера – 1200 руб.).

ФХАЛ

Журналы будут направлены по почте на адрес плательщика или на иной адрес по доверенности плательщика.
Редколлегия журнала предлагает всем предприятиям, организациям и компаниям, оформившим подписку на журнал, направлять в наш адрес материалы. Представляющие научный и практический интерес статьи будут опубликованы.

По всем вопросам подписки и приобретения номеров журнала обращайтесь в редакцию:

+74952297487

+nvoronova@niime.ru

ФХАЛ

Публикации сотрудников

В НИИМЭ создана система поощрения сотрудников за выполнение научных задач, публикации в научных журналах и сборниках тезисов российских и международных конференций, результаты интеллектуальной деятельности, оформленные в виде патентов на изобретения или программного обеспечения, прошедшего процедуру государственной регистрации.

ФХАЛ