Новые микроэлектронные технологии

КМОП Энергонезависимая память Интегральная фотоника 3D сборка

Материалы

ФХАЛ Чистые материалы (фоторезист) Технологическое оборудование Гетероструктуры ИИ технологии

Фундаментальные исследования (28 нм и менее) Форум «Микроэлектроника» Школа молодых ученых Научный совет РАН «Квантовые технологии» Научный совет ОНИТ РАН Журнал «Микроэлектроника» Journal Microelectronics (английская версия для индексации)

Решения для КИИ Микроконтроллеры Программно-аппаратные комплексы Смарт-карты и RFID Микроконтроллеры Программное обеспечение IP-блоки Гетероструктуры Интегральные микросхемы Микропроцессоры и контроллеры Микросхемы памяти ПЛИС БМК АЦП Операционные усилители Компараторы Прочие микросхемы Приложения

Базовые кафедры Целевой набор Практики и стажировки Учебный центр Центр оценки квалификации

История НИИМЭ Достижения Награды и премии Медиацентр Новости СМИ о нас Мультимедиа Газета «Наука» Сертификаты и лицензии Контакты

Технологии

Новые микроэлектронные технологии Материалы Технологическое оборудование Гетероструктуры ИИ технологии

КМОП Энергонезависимая память Интегральная фотоника 3D сборка

ФХАЛ Чистые материалы (фоторезист)

Наука

Фундаментальные исследования Форум «Микроэлектроника» Школа молодых ученых Научный совет РАН «Квантовые технологии» Научный совет ОНИТ РАН Журнал «Микроэлектроника»

Journal Microelectronics (английская версия для индексации)

Продукты и услуги

Решения для КИИ Смарт-карты и RFID IP-блоки Гетероструктуры

Микроконтроллеры Программно-аппаратные комплексы

Микроконтроллеры Программное обеспечение

Микропроцессоры и контроллеры Микросхемы памяти ПЛИС БМК АЦП Операционные усилители Компараторы Прочие микросхемы Приложения

Карьера

История НИИМЭ Медиацентр Сертификаты и лицензии Контакты

Достижения Награды и премии

Новости СМИ о нас Мультимедиа Газета «Наука»

Проезд, адрес, телефоны Горячая линия

+7 495 229 70 00

Новые микроэлектронные технологии Материалы Технологическое оборудование Гетероструктуры ИИ технологии

КМОП Энергонезависимая память Интегральная фотоника 3D сборка

История НИИМЭ
- Достижения
- Награды и премии
Медиацентр
Сертификаты и лицензии
Контакты

Порядок осуществления закупочной деятельности

Скачать документ

+7 495 229 70 00 niime@niime.ru

Технологии Новые микроэлектронные технологии Материалы Технологическое оборудование Гетероструктуры ИИ технологии

Наука Фундаментальные исследования Форум «Микроэлектроника» Школа молодых ученых Научный совет РАН «Квантовые технологии» Научный совет ОНИТ РАН Журнал «Микроэлектроника»

Продукты Решения для КИИ Смарт-карты и RFID IP-блоки Интегральные микросхемы

Карьера Базовые кафедры Целевой набор Практики и стажировки Учебный центр Центр оценки квалификации Сведения об образовательной организации

О компании История НИИМЭ Медиацентр Сертификаты и лицензии Контакты

Закупки Противодействие коррупции Обработка персональных данных

НИИМЭ © 2026