Новые микроэлектронные технологии
Комплементарная структура металл-оксид-полупроводник (КМОП) Энергонезависимая память Интегральная фотоника 3D сборка
Материалы
Физико-химическая аналитическая лаборатория (ФХАЛ) Чистые материалы (фоторезист) Технологическое оборудование Технологии искусственного интеллекта
Фундаментальные исследования (28 нм и менее) Форум «Микроэлектроника» Школа молодых ученых Научный совет РАН «Квантовые технологии» Научный совет ОНИТ РАН Журнал «Электронная техника. Серия 3. Микроэлектроника» Journal Microelectronics (английская версия для индексации)
Решения для критической информационной инфраструктуры (КИИ) Микроконтроллеры Программно-аппаратные комплексы Смарт-карты и радиочастотная идентификация (RFID) Микроконтроллеры Программное обеспечение IP-блоки Интегральные микросхемы Микропроцессоры и контроллеры Микросхемы памяти Программируемые логические интегральные схемы (ПЛИС) Базовые матричные кристаллы (БМК) Аналого-цифровые преобразователи (АЦП) Операционные усилители Компараторы Прочие микросхемы Приложения
Базовые кафедры Целевой набор Практики и стажировки Учебный центр Центр оценки квалификации Вакансии Сведения об образовательной организации
История НИИМЭ Достижения Награды и премии Медиацентр Новости СМИ о нас Мультимедиа Сертификаты и лицензии Контакты
Технологии
Новые микроэлектронные технологии Материалы Технологическое оборудование Технологии искусственного интеллекта
Комплементарная структура металл-оксид-полупроводник (КМОП) Энергонезависимая память Интегральная фотоника 3D сборка
Физико-химическая аналитическая лаборатория (ФХАЛ) Чистые материалы (фоторезист)
Наука
Фундаментальные исследования Форум «Микроэлектроника» Школа молодых ученых Научный совет РАН «Квантовые технологии» Научный совет ОНИТ РАН Журнал «Электронная техника. Серия 3. Микроэлектроника»
Journal Microelectronics (английская версия для индексации)
Продукты и услуги
Решения для критической информационной инфраструктуры (КИИ) Смарт-карты и радиочастотная идентификация (RFID) IP-блоки Интегральные микросхемы
Микроконтроллеры Программно-аппаратные комплексы
Микроконтроллеры Программное обеспечение
Микропроцессоры и контроллеры Микросхемы памяти Программируемые логические интегральные схемы (ПЛИС) Базовые матричные кристаллы (БМК) Аналого-цифровые преобразователи (АЦП) Операционные усилители Компараторы Прочие микросхемы Приложения
Карьера
Базовые кафедры Целевой набор Практики и стажировки Учебный центр Центр оценки квалификации Вакансии Сведения об образовательной организации
Кафедра в МФТИ Кафедра в МИЭТ
О НИИМЭ
История НИИМЭ Миссия и ценности Медиацентр Сертификаты и лицензии Патенты Контакты
Достижения Награды и премии
Новости СМИ о нас Мультимедиа
Проезд, адрес, телефоны Горячая линия
+7 495 229 70 00
  • О НИИМЭ
  • Медиацентр
    • Новости
    • СМИ о нас
    • Мультимедиа
  • Сертификаты и лицензии
  • Контакты
← Вернуться

Поздравляем с Новым годом и Рождеством!

Посмотреть новогоднее обращение генерального директора АО "НИИМЭ" Александра Сергеевича Кравцова..

Последние новости

Школа молодых ученых: открыт прием заявок

Школа молодых ученых: открыт прием заявок

Уникальная возможность заявить о своем проекте

31.03.2026
НИИМЭ и НИИТМ начали совместную разработку

НИИМЭ и НИИТМ начали совместную разработку

Будет создано оборудование для нанесения слоев алюминиевой металлизации

30.03.2026
Научная конференция МФТИ

Научная конференция МФТИ

Студенты кафедры микро- и наноэлектроники МФТИ представят свои научные исследования

30.03.2026
Все новости
+7 495 229 70 00 niime@niime.ru
Технологии Новые микроэлектронные технологии Материалы Технологическое оборудование Технологии искусственного интеллекта
Наука Фундаментальные исследования Форум «Микроэлектроника» Школа молодых ученых Научный совет РАН «Квантовые технологии» Научный совет ОНИТ РАН Журнал «Электронная техника. Серия 3. Микроэлектроника»
Продукты Решения для критической информационной инфраструктуры (КИИ) Смарт-карты и радиочастотная идентификация (RFID) IP-блоки Интегральные микросхемы
Карьера Базовые кафедры Целевой набор Практики и стажировки Учебный центр Центр оценки квалификации Вакансии Сведения об образовательной организации
О компании История НИИМЭ Медиацентр Сертификаты и лицензии Патенты Контакты
Противодействие коррупции Карта сайта
НИИМЭ © 2026
Яндекс.Метрика