Магистранты базовой кафедры микро- и наноэлектроники успешно сдали государственный экзамен

На кафедре микро- и наноэлектроники МФТИ состоялся государственный экзамен по специальности для выпускников магистратуры. Экзамен принимала Государственная комиссия под руководством член-корреспондента РАН, заместителя руководителя приоритетного технологического направления по электронным технологиям АО «НИИМЭ», заместителя руководителя базовой кафедры д.т.н., проф. Горнева Евгения Сергеевича в составе д.ф.-м.н., проф. Итальянцева Александра Георгиевича, д.ф.-м.н., проф. Барабаненкова Михаила Юрьевича, к.ф.-м.н. Резванова Аскара Анваровича.

Экзаменационные билеты включали вопросы по физике, технологии, приборам микроэлектроники, а также доклад по выпускной квалификационной работе, отражающий актуальность и новизну исследуемой темы. Дополнительные вопросы комиссии превратили экзамен в научную дискуссию между начинающими и заслуженными учеными.

В июне состоится защита магистерских диссертаций. Подготовка включает интенсивную работу с научными руководителями и консультантами, участие в предзащитах и научных конференциях.
Также сотрудники НИИМЭ принимали государственный экзамен по общей физике у студентов 3 курса МФТИ. В феврале заинтересованные студенты этого потока приедут на ознакомительную практику, а с нового учебного года будут выполнять исследования в НИИМЭ.