Новые микроэлектронные технологии
Комплементарная структура металл-оксид-полупроводник (КМОП) Энергонезависимая память Интегральная фотоника 3D сборка
Материалы
Физико-химическая аналитическая лаборатория (ФХАЛ) Чистые материалы (фоторезист) Технологическое оборудование Гетероструктуры Технологии искусственного интеллекта
Фундаментальные исследования (28 нм и менее) Форум «Микроэлектроника» Школа молодых ученых Научный совет РАН «Квантовые технологии» Научный совет ОНИТ РАН Журнал «Микроэлектроника» Journal Microelectronics (английская версия для индексации)
Решения для критической информационной инфраструктуры (КИИ) Микроконтроллеры Программно-аппаратные комплексы Смарт-карты и радиочастотная идентификация (RFID) Микроконтроллеры Программное обеспечение IP-блоки Гетероструктуры Интегральные микросхемы Микропроцессоры и контроллеры Микросхемы памяти Программируемые логические интегральные схемы (ПЛИС) Базовые матричные кристаллы (БМК) Аналого-цифровые преобразователи (АЦП) Операционные усилители Компараторы Прочие микросхемы Приложения
Базовые кафедры Целевой набор Практики и стажировки Учебный центр Центр оценки квалификации Вакансии Сведения об образовательной организации
История НИИМЭ Достижения Награды и премии Медиацентр Новости СМИ о нас Мультимедиа Сертификаты и лицензии Контакты
Технологии
Новые микроэлектронные технологии Материалы Технологическое оборудование Гетероструктуры Технологии искусственного интеллекта
Комплементарная структура металл-оксид-полупроводник (КМОП) Энергонезависимая память Интегральная фотоника 3D сборка
Физико-химическая аналитическая лаборатория (ФХАЛ) Чистые материалы (фоторезист)
Наука
Фундаментальные исследования Форум «Микроэлектроника» Школа молодых ученых Научный совет РАН «Квантовые технологии» Научный совет ОНИТ РАН Журнал «Микроэлектроника»
Journal Microelectronics (английская версия для индексации)
Продукты и услуги
Решения для критической информационной инфраструктуры (КИИ) Смарт-карты и радиочастотная идентификация (RFID) IP-блоки Гетероструктуры Интегральные микросхемы
Микроконтроллеры Программно-аппаратные комплексы
Микроконтроллеры Программное обеспечение
Микропроцессоры и контроллеры Микросхемы памяти Программируемые логические интегральные схемы (ПЛИС) Базовые матричные кристаллы (БМК) Аналого-цифровые преобразователи (АЦП) Операционные усилители Компараторы Прочие микросхемы Приложения
Карьера
Базовые кафедры Целевой набор Практики и стажировки Учебный центр Центр оценки квалификации Вакансии Сведения об образовательной организации
О НИИМЭ
История НИИМЭ Миссия и ценности Медиацентр Сертификаты и лицензии Патенты Контакты
Достижения Награды и премии
Новости СМИ о нас Мультимедиа
Проезд, адрес, телефоны Горячая линия
+7 495 229 70 00
  • О НИИМЭ
  • Медиацентр
    • Новости
    • СМИ о нас
    • Мультимедиа
  • Сертификаты и лицензии
  • Контакты
← Вернуться

С Днём России!

Последние новости

Анонс заседания НС РАН «Квантовые технологии»

Анонс заседания НС РАН «Квантовые технологии»

Тема «Сложные задачи: квантовые вычисления и перспективы гетерогенных вычислителей»

12.03.2026
Поздравляем с Международным женским днем !

Поздравляем с Международным женским днем !

Треть коллектива НИИМЭ – женщины: руководители, инженеры, специалисты

06.03.2026
НИИМЭ - 62 года!

НИИМЭ - 62 года!

НИИМЭ – ведущая российская научная и инженерная школа в микроэлектронике

06.03.2026
Все новости
+7 495 229 70 00 niime@niime.ru
Технологии Новые микроэлектронные технологии Материалы Технологическое оборудование Гетероструктуры Технологии искусственного интеллекта
Наука Фундаментальные исследования Форум «Микроэлектроника» Школа молодых ученых Научный совет РАН «Квантовые технологии» Научный совет ОНИТ РАН Журнал «Микроэлектроника»
Продукты Решения для критической информационной инфраструктуры (КИИ) Смарт-карты и радиочастотная идентификация (RFID) IP-блоки Интегральные микросхемы
Карьера Базовые кафедры Целевой набор Практики и стажировки Учебный центр Центр оценки квалификации Вакансии Сведения об образовательной организации
О компании История НИИМЭ Медиацентр Сертификаты и лицензии Патенты Контакты
Закупки Противодействие коррупции Карта сайта
НИИМЭ © 2026
Яндекс.Метрика