Новые микроэлектронные технологии
Комплементарная структура металл-оксид-полупроводник (КМОП) Энергонезависимая память Интегральная фотоника 3D сборка
Материалы
Физико-химическая аналитическая лаборатория (ФХАЛ) Чистые материалы (фоторезист) Технологическое оборудование Технологии искусственного интеллекта
Фундаментальные исследования (28 нм и менее) Форум «Микроэлектроника» Школа молодых ученых Научный совет РАН «Квантовые технологии» Научный совет ОНИТ РАН Журнал «Электронная техника. Серия 3. Микроэлектроника» Journal Microelectronics (английская версия для индексации)
Решения для критической информационной инфраструктуры (КИИ) Микроконтроллеры Программно-аппаратные комплексы Смарт-карты и радиочастотная идентификация (RFID) Микроконтроллеры Программное обеспечение IP-блоки Интегральные микросхемы Микропроцессоры и контроллеры Микросхемы памяти Программируемые логические интегральные схемы (ПЛИС) Базовые матричные кристаллы (БМК) Аналого-цифровые преобразователи (АЦП) Операционные усилители Компараторы Прочие микросхемы Приложения
Базовые кафедры Целевой набор Практики и стажировки Учебный центр Центр оценки квалификации Вакансии Сведения об образовательной организации
История НИИМЭ Достижения Награды и премии Медиацентр Новости СМИ о нас Мультимедиа Сертификаты и лицензии Контакты
Технологии
Новые микроэлектронные технологии
Комплементарная структура металл-оксид-полупроводник (КМОП) Энергонезависимая память Интегральная фотоника 3D сборка
Материалы
Физико-химическая аналитическая лаборатория (ФХАЛ) Чистые материалы
Технологическое оборудование
Технологии искусственного интеллекта
Наука
Фундаментальные исследования
Форум «Микроэлектроника»
Школа молодых ученых
Научный совет РАН «Квантовые технологии»
Научный совет ОНИТ РАН
Журнал «Электронная техника. Серия 3. Микроэлектроника»
Journal Microelectronics
Продукты и услуги
Решения для критической информационной инфраструктуры (КИИ)
Микроконтроллеры Программно-аппаратные комплексы
Смарт-карты и радиочастотная идентификация (RFID)
Микроконтроллеры Программное обеспечение
IP-блоки
Интегральные микросхемы
Микропроцессоры и контроллеры Микросхемы памяти ПЛИС БМК АЦП Операционные усилители Компараторы
Карьера
Базовые кафедры
Кафедра в МФТИ Кафедра в МИЭТ
Целевой набор
Практики и стажировки
Учебный центр
Образовательные программы Сведения об образовательной организации
Центр оценки квалификации
Вакансии
О НИИМЭ
История НИИМЭ
Достижения Награды и премии
Миссия и ценности
Медиацентр
Новости СМИ о нас Мультимедиа
Сертификаты и лицензии
Политика в области качества Система менеджмента качества ФХАЛ
Патенты
Контакты
+7 495 229 70 00
  • О НИИМЭ
    • Достижения
    • Награды и премии
  • Медиацентр
    • Новости
    • СМИ о нас
    • Мультимедиа
  • Сертификаты и лицензии
    • Политика в области качества
    • Система менеджмента качества
    • Физико-химическая аналитическая лаборатория
  • Патенты
  • Контакты
← Вернуться

С Днём России!

С Днём России!

Последние новости

Подведены итоги 68 й Всероссийской научной конференции МФТИ

Подведены итоги 68 й Всероссийской научной конференции МФТИ

НИИМЭ отметил достижения молодых ученых в области микроэлектроники

05.05.2026
Состоялся III конкурс школьных проектов НИИМЭ

Состоялся III конкурс школьных проектов НИИМЭ

Во Дворце творчества детей и молодежи г. Зеленограда состоялся III ежегодный конкурс школьных проектов, организованный НИИМЭ. Под руководством восьми…

04.05.2026
С праздником весны и труда!

С праздником весны и труда!

30.04.2026
Все новости
+7 495 229 70 00 niime@niime.ru
Технологии Новые микроэлектронные технологии Материалы Технологическое оборудование Технологии искусственного интеллекта
Наука Фундаментальные исследования Форум «Микроэлектроника» Школа молодых ученых Научный совет РАН «Квантовые технологии» Научный совет ОНИТ РАН Журнал «Электронная техника. Серия 3. Микроэлектроника»
Продукты Решения для критической информационной инфраструктуры (КИИ) Смарт-карты и радиочастотная идентификация (RFID) IP-блоки Интегральные микросхемы
Карьера Базовые кафедры Целевой набор Практики и стажировки Учебный центр Центр оценки квалификации Вакансии Сведения об образовательной организации
О компании История НИИМЭ Медиацентр Сертификаты и лицензии Патенты Контакты
Противодействие коррупции Карта сайта
НИИМЭ © 2026
Яндекс.Метрика