«НИИМЭ» ПРОВЕДЕТ СЕКЦИЮ МИКРОЭЛЕКТРОНИКИ В РАМКАХ 59-ОЙ НАУЧНОЙ КОНФЕРЕНЦИИ МФТИ
23 ноября 2016 года в зале научно-технических советов АО «НИИМЭ» в г. Зеленоград состоится секция микроэлектроники в рамках ежегодной научно-практической 59-ой конференции МФТИ с международным участием. Мероприятие нацелено на демонстрацию современных взглядов на состояние и тренды микроэлектронной индустрии.
В этом году конференция, состоящая из комплекса секций для специалистов по 13 ключевым научным направлениям, приурочена к празднованию 70-летнего юбилея Московского Физико-Технического Института и будет проходить с 21 по 26 ноября на его территории.
В секции микроэлектроники примут участие студенты кафедры «Микро- и наноэлектроника» при НИИМЭ, а также учащиеся других базовых кафедр факультета ФФКЭ и аспиранты МФТИ, студенты МИЭТ и «МГТУ им. Н. Э. Баумана». На мероприятии будут обсуждаться актуальные проблемы фундаментальных и прикладных наук в области физики. Молодые специалисты и преподаватели базовой кафедры НИИМЭ представят научные свои проекты и обсудят основные тенденции развития технологий отечественной микроэлектронной промышленности.
Комиссия в составе преподавателей базовой кафедры подведет итоги представленных работ, авторы лучших из которых будут награждены дипломами с правом бесплатной публикации научной статьи в журнале «Труды МФТИ». Также все участники секции смогут опубликовать основные тезисы своих исследований в научном сборнике конференции.
В этом году конференция, состоящая из комплекса секций для специалистов по 13 ключевым научным направлениям, приурочена к празднованию 70-летнего юбилея Московского Физико-Технического Института и будет проходить с 21 по 26 ноября на его территории.
В секции микроэлектроники примут участие студенты кафедры «Микро- и наноэлектроника» при НИИМЭ, а также учащиеся других базовых кафедр факультета ФФКЭ и аспиранты МФТИ, студенты МИЭТ и «МГТУ им. Н. Э. Баумана». На мероприятии будут обсуждаться актуальные проблемы фундаментальных и прикладных наук в области физики. Молодые специалисты и преподаватели базовой кафедры НИИМЭ представят научные свои проекты и обсудят основные тенденции развития технологий отечественной микроэлектронной промышленности.
Комиссия в составе преподавателей базовой кафедры подведет итоги представленных работ, авторы лучших из которых будут награждены дипломами с правом бесплатной публикации научной статьи в журнале «Труды МФТИ». Также все участники секции смогут опубликовать основные тезисы своих исследований в научном сборнике конференции.
