Вернуться к новостям

ВЫПУСКНИКИ БАКАЛАВРИАТА БАЗОВОЙ КАФЕДРЫ НИИМЭ ПРИ МФТИ УСПЕШНО ЗАЩИТИЛИ ДИПЛОМНЫЕ РАБОТЫ

28 июня в АО «НИИМЭ» прошла защита дипломных работ выпускниками программы бакалавриата базовой кафедры «Микро- и наноэлектроники» Московского физико-технического института (МФТИ).
Защиту квалификационных работ принимала Государственная аттестационная комиссия под председательством академика РАН, генерального директора АО «НИИМЭ», заведующего кафедрой «Микро- и наноэлектроники» Г.Я.Красникова. В состав гос. комиссии вошли: заместитель заведующего кафедрой «Микро- и наноэлектроники» д.т.н., профессор, Е.С.Горнев, д.т.н, профессор, ген. директор «НТ-МДТ» В.А.Быков, зав. кафедрой физики и технологии наноэлектроники, профессор, д. ф.-м.н., член-корреспондент РАН В.В.Аристов. На защите присутствовали ведущие специалисты АО «НИИМЭ» – научные руководители бакалавров – заместитель генерального директора, к.т.н. В.И.Эннс, руководитель лаборатории гибридных многофункциональных 3D сборок – начальник отдела ОФЭ, д.ф.-м.н., профессор А.Г.Итальянцев.
Всего было заслушано 15 работ. Выпускники программы бакалавриата базовой кафедры НИИМЭ показали отличный уровень знаний и представили интересные, вдумчивые и хорошо подготовленные дипломные работы. 13 студентов получили за них отличную оценку.

Последние новости