Новые микроэлектронные технологии
Комплементарная структура металл-оксид-полупроводник (КМОП) Энергонезависимая память Интегральная фотоника 3D сборка
Материалы
Физико-химическая аналитическая лаборатория (ФХАЛ) Чистые материалы (фоторезист) Технологическое оборудование Технологии искусственного интеллекта
Фундаментальные исследования (28 нм и менее) Форум «Микроэлектроника» Школа молодых ученых Научный совет РАН «Квантовые технологии» Научный совет ОНИТ РАН Журнал «Электронная техника. Серия 3. Микроэлектроника»
Решения для критической информационной инфраструктуры (КИИ) Микроконтроллеры Программно-аппаратные комплексы Смарт-карты и радиочастотная идентификация (RFID) Микроконтроллеры Программное обеспечение IP-блоки Интегральные микросхемы Микропроцессоры и контроллеры Микросхемы памяти Программируемые логические интегральные схемы (ПЛИС) Базовые матричные кристаллы (БМК) Аналого-цифровые преобразователи (АЦП) Операционные усилители Компараторы Прочие микросхемы Приложения
Базовые кафедры Целевой набор Практики и стажировки Учебный центр Центр оценки квалификации Вакансии Сведения об образовательной организации
История НИИМЭ Достижения Награды и премии Медиацентр Новости СМИ о нас Мультимедиа Сертификаты и лицензии Контакты
Технологии
Новые микроэлектронные технологии
Комплементарная структура металл-оксид-полупроводник (КМОП) Энергонезависимая память Интегральная фотоника 3D сборка
Материалы
Физико-химическая аналитическая лаборатория (ФХАЛ) Чистые материалы
Технологическое оборудование
Технологии искусственного интеллекта
Наука
Фундаментальные исследования
Форум «Микроэлектроника»
Школа молодых ученых
Научный совет РАН «Квантовые технологии»
Научный совет ОНИТ РАН
Журнал «Электронная техника. Серия 3. Микроэлектроника»
Продукты и услуги
Решения для критической информационной инфраструктуры (КИИ)
Микроконтроллеры Программно-аппаратные комплексы
Смарт-карты и радиочастотная идентификация (RFID)
Микроконтроллеры Программное обеспечение
IP-блоки
Интегральные микросхемы
Микропроцессоры и контроллеры Микросхемы памяти ПЛИС БМК АЦП Операционные усилители Компараторы
Карьера
Базовые кафедры
Кафедра в МФТИ Кафедра в МИЭТ
Целевой набор
Практики и стажировки
Учебный центр
Образовательные программы Сведения об образовательной организации
Центр оценки квалификации
Вакансии
О НИИМЭ
История НИИМЭ
Достижения Награды и премии
Миссия и ценности
Медиацентр
Новости СМИ о нас Мультимедиа
Сертификаты и лицензии
Политика в области качества Система менеджмента качества ФХАЛ
Патенты
Контакты
+7 495 229 70 00
  • О НИИМЭ
    • Достижения
    • Награды и премии
  • Медиацентр
    • Новости
    • СМИ о нас
    • Мультимедиа
  • Сертификаты и лицензии
    • Политика в области качества
    • Система менеджмента качества
    • Физико-химическая аналитическая лаборатория
  • Патенты
  • Контакты
Вернуться к новостям
15.10.2018

Лауреат премии правительства Москвы Андрей Нуйкин рассказывает о новых разработках НИИМЭ

Лауреат премии правительства Москвы Андрей Нуйкин рассказывает о новых разработках НИИМЭ

Последние новости

НИИМЭ на конференции «Мосты»: как сообщества помогают развиваться компаниям
17.09.2026

НИИМЭ на конференции «Мосты»: как сообщества помогают развиваться компаниям

НИИМЭ (входит в Группу компаний «Элемент», MOEX:ELMT) принял участие во второй Всероссийской конференции «Мосты», посвященной развитию…

В Зеленограде стартовала Предконференция №2 Форума «Микроэлектроника 2026»
17.09.2026

В Зеленограде стартовала Предконференция №2 Форума «Микроэлектроника 2026»

17-18 сентября в Зеленограде на базе НИУ МИЭТ проходит второе стартовое мероприятие 12-ой Научной конференции «ЭКБ и электронные модули» Российского…

НИИМЭ выступит партнером ИнфоБЕРЕГ’2026
08.09.2026

НИИМЭ выступит партнером ИнфоБЕРЕГ’2026

Форум соберет ключевые предприятия и организации отрасли

Все новости
+7 495 229 70 00 niime@niime.ru
Технологии Новые микроэлектронные технологии Материалы Технологическое оборудование Технологии искусственного интеллекта
Наука Фундаментальные исследования Форум «Микроэлектроника» Школа молодых ученых Научный совет РАН «Квантовые технологии» Научный совет ОНИТ РАН Журнал «Электронная техника. Серия 3. Микроэлектроника»
Продукты Решения для критической информационной инфраструктуры (КИИ) Смарт-карты и радиочастотная идентификация (RFID) IP-блоки Интегральные микросхемы
Карьера Базовые кафедры Целевой набор Практики и стажировки Учебный центр Центр оценки квалификации Вакансии Сведения об образовательной организации
О компании История НИИМЭ Медиацентр Сертификаты и лицензии Патенты Контакты
Противодействие коррупции Карта сайта
НИИМЭ © 2026